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所有Silicon Designs MEMS数字表面贴装加速度计均具有:
数字脉冲密度输出
集成传感器和放大器
+5 VDC,2 mA电源(典型值)
响应DC和AC加速
无外部参考电压
易于连接微处理器,兼容TTL / CMOS
良好的EMI电阻
1410型产生一个数字脉冲序列,其中脉冲密度(每秒的脉冲数)与所施加的加速度成比例。它需要一个+ 5V单电源和一个100kHz至1MHz的TTL / CMOS电平时钟。输出与时钟频率成比例,并且与电源电压无关。提供了两种形式的数字信号,用于直接与微处理器或计数器接口。敏感轴垂直于包装底部,正加速度定义为推动包装底部的力。外部数字线路驱动器可用于驱动长电缆,或在嘈杂的环境中使用。
SDI的3340型G-Logger®是一种低成本、独立的便携式数据采集系统,具有与昂贵得多的系统中常见的强大监测、FFT分析和显示功能相同的功能。3340以非常实惠的价格为用户提供快速、强大和全面的实时数据流,并提供快速设置。
使用按钮和/或时间表开始和停止数据采集
收集峰值信息
在任何显示模式下查看峰值事件和事件数据列表
添加 GPS 模块以收集 GPS 数据
使用内部电池电源、外部电源组或交流电源
与所有 Silicon Designs 工业加速度计兼容
通过 +/-1G 翻转进行自动和手动校准程序
用于实时或采集后数据分析的可调滤波器和 FFT
包含的软件具有基于 LabView 平台构建的熟悉且方便的用户界面
三个 1 轴模块或一个 3 轴模块的三个输入通道
16 位采样率,每轴 1 到 10,000 个样本/秒
Silicon Designs 加速度计模块接线后不到 5 分钟即可自动设置
3340 G-Logger® 数据采集系统是 SDI 3330 型的高版本。3340 结合了 3330 的所有强大功能,此外 3340 还具有:
由 USB、AA 电池或通过 USB 电缆的交流电源供电
可编程用于计划监控
包括回放期间的事件检测和隔离
支持可选的GPS数据采集
3340 是快速简单地评估振动和运动的理想工具,专用于测试插座中的 SDI 加速度计模块和芯片。它具有三个输入通道,允许一个三轴模块或最多三个单轴模块,或与 SDI EB-L 或 EB-J 测试仪配对。它还提供加速度计所需的所有电源,因此不需要额外的电源。
随附的软件具有基于 LabView 平台构建的用户界面。3340 采集加速度计数据并以三种不同的格式同时以图形方式显示,可以是实时的,也可以是来自先前采集的数据文件:
数据与时间的关系,如示波器
频谱,显示幅度与频率 (FFT)
仪表,显示电流测量值,例如 DC、RMS 和峰值
扩展或收缩显示窗口的时间尺度以查看详细信息或聚合数据,并根据需要暂停、快进或倒回数据。以每轴 1 到 10,000 个样本/秒的 16 位采样率直接记录到计算机或 6 级或 SD 存储卡。
使用 SDI 加速度计自动或手动配置 3340 只需不到 5 分钟,或者 SDI 可以在购买时预先配置您的 3340。3340 软件自动填充兼容 SDI 加速度计的标准校准数据,或轻松输入个别加速度计的特定数据以获得绝对精度。3340 还可以在加速度计生命周期中的任何时间按需执行校准检查,以使用简单的 +/-1G 翻转来验证校准数据。
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