GE Panametrics 露点仪探头MIS PROBE2技术参数

40多年来，GE氧化铝水分探头一直是工业水分测量的性能和价值标准。

在使用中，M系列湿度探头通过互连电缆连接到GE湿度计控制台。易用性、广泛的测量范围和严格

的校准标准使这些系统成为全球工业湿度测量的 。

内置压力和温度测量

许多湿度测量参数的精确确定需要了解过程温度和压力。与安装和使用单独的温度和压力传

感器相关的不便和限制已经消除，这两种功能都直接内置在Moisture Image Series探头中。

可提供一个用于测量-30至70°C（-22至158°F）温度的非线性NTC热敏电阻和五个固态压阻传感器，

用于测量高达5000 psig（345 bar）的压力。

超低量程Ppbv标度

Moisture Image Series 1和2分析仪的ppbv低量程是通过采用三种独立但同样重要的技术实现的。

首先，先进的新型基于微处理器的湿度图像系列探头具有16位分辨率，使其能够检测传感器阻抗的微

小变化，从而检测湿度水平。

当与VCR兼容配件相结合时，该传感器在超高纯度系统中提供 的性能。

可追溯到NIST的严格校准标准

每个MIS探头的氧化铝传感器都在 先进的湿度校准设备中进行单独校准。该设施经过几十年的

开发，可产生精确已知的水分浓度，可追溯到美国国家标准与技术研究所（NIST），每个传感器在校准

过程中都会暴露在该机构中。